C3手动探针台测试系统适用于少量样品测试或研发阶段小规模高精度测试的场景。基于灵活的模块，该系列可以在高性价比的前提下，为您的应用场景定制测试装备。
通过不同的选件以及测试仪表，可以为您实现各类复杂多变的晶圆测试目标，为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，并具备良好的可扩展特性。
