封装体测试系统 - 柯泰光芯测试技术 vcsel测试解决方案

手动多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000

柯泰的多站式VCSEL模组性能测试系统SPT5000是一款高精度测试平台，精准适配实验室环境的性能验证应用场景，在研发、生产、质量控制等环节具有广泛的应用。该系统支持手动加载和操作，能够对VCSEL模组的电学、光学进行全面测试，包括LIV特性、光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数，可以作为 VCSEL 模组的综合性能评测机构。

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光源器件教学实验系统SPT-EDU

柯泰将光电行业标准的光源测试方法归纳简化后，设计出一套适合高职和高校光电专业学生实验的测试系统SPT-EDU：以可以接受的成本，让学生学习和操作贴近产业实践的测试方法。该系统基础版可演练LIV特性，可探究阈值电流、工作电流、工作电压等基本工作参数；还可以扩展覆盖光谱、近场光学特性、远场光学特性等关键参数。授课老师可以通过这些实验，激发学生们对各种参数的影响因素进行思考和延展。该实验系统亦可在一定指标内支持高校老师的科研测试，从而达到一机多用的效果。

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半自动封装体测试系统SPMT9000

针对半自动VCSEL封装体窄脉冲性能测试的要求，柯泰自主研发了本测试系统。通过提供稳定可靠的自动运动平台，结合不同的物料形式以实现封装尺寸产品的测试，可适配各种光电检测组合的测试方案，包括：实现在窄脉冲驱动方式下的LIV测试（电流、电压、光功率时域波形测试），远场性能测试，并实现对产品内部齐纳二极管的电性能测试等功能。

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全自动封装体测试系统SPMT7000

柯泰研发的自动VCSEL封装体光电性能检测系统，采用模块化设计，由蓝膜上料模组、LIV性能测试模组、FF性能测试模组、蓝膜下料模组、驱动及控制软件等构成。该系统具备快速自动综合检测能力，涵盖客户所需要的光电性能检测模块，匹配量产自动化所需要的效率组件和数据管理，实现VCSEL的批量测试，测试速度快、检测精度高、适应性强，适配于各种光电检测组合的测试方案。

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定制老化和测试系统DAM9000

DAM9000是一款用于模拟极端使用条件来加速半导体器件的老化过程，并检测其潜在失效的测试机台。老化柜主机带有18个舱位，每个舱位可支持16pcs芯片同时老化，整机最高可支持288pcs芯片同时老化，可多任务并行。该设备能够精准模拟半导体激光器的工作状态，支持上位机远程控制和监测数据，为激光器的性能评估、寿命测试及质量控制提供可靠数据支持。

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VCSEL窄脉冲板级测试系统APS9000

APS9000是一款专门针对老化板在窄脉冲条件下进行全面性能检测的设备，该系统为半自动三站式测试系统。通过稳定可靠的自动运动平台，该测试系统可以在调校完成后，针对老化驱动板实现自动运行到指定测试位置，从而实现老化窄脉冲LIV测试及光谱测试、窄脉冲近场测试、窄脉冲远场测试。无论是光学性能，还是电学性能，该测试系统均能为您提供准确的性能评估，确保老化板在实际使用中的稳定性与可靠性，帮助您优化产品性能、提高生产效率。

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