近两年，随着3D传感应用的迅速发展，基于VCSEL阵列的TOF、LiDAR等应用方向也受到越来越多的瞩目。由于相关产业目前暂时未形成特别明确的测试标准，其测试工具、方法、流程、算法等，业界仍在摸索的过程中。
其中，VCSEL阵列的瞬态特性，如TR/TF、窄脉冲响应等，由于其需要高速大电流驱动，而高速大电流对测试组网的分布参数影响十分敏感，是一个较难处理的测试项目；同时，传统QCW（准连续波，脉冲）方式测试时，使用闭环反馈的脉冲源表做驱动器，虽然输出电流大小可以精确控制，但需要较长时间稳定，输出电流上升/下降时间和脉宽一般在微秒量级，无法满足窄脉冲LIV和TR/TF的纳秒级需求。
目前，窄脉冲LIV和TR/TF的测试主要存在下列难点：
LD需要尽量靠近驱动器的情况下，多数时候VCSEL阵列使用焊接方式，属于破坏性测试，仅可用于研发和品质检测
窄脉冲电流驱动器一般为自制，由于控制产生脉冲电流方式各有不同，测试指标和稳定性难以对比，出现问题时分析和调试难度较高
获取LD的工作电流电压不方便，测试设备接入对测试指标影响显著
测量的脉冲电流和电压形状不规则，指标提取需算法协助
柯泰测试总结目前业界探索成果，结合客户反馈和实践经验，针对TOF研发和小批量量产的窄脉冲LIV和TR/TF测试需求，研发了系列解决方案。该系列解决方案的测试对象主要包括Wafer残片、裸芯片和带封装芯片。根据用户的实际需求，柯泰测试的解决方案将有下列四种组成方式：
残片、裸芯片的脉冲LIV测试配置
残片、裸芯片的TR/TF测试配置
带封装芯片的脉冲LIV测试配置
带封装芯片的TR/TF测试配置
这些配置均包括了柯泰自主研发的窄脉冲驱动器，并根据指标和被测件形态，实现客制化夹具和探针台方案，从而在尽可能保证测试系统性能的基础上支持非破坏性测试。同时，柯泰测试拥有自己的脉冲测试算法，能从采集波形中获取稳定电流电压数据，保证LIV测试结果的重复性。
这些配置中，除了必要的数据采集设备、控制脉冲信号源、测试支架、电缆组件、安全防护机制和供电设备以外，还包括：
实际配置使用了测试夹具、探卡等测试附件，LIV测试还加入了电压探测和电流采样配件，会使上述指标出现某些退化，故用户最终测试结果和这些附件及被测物自身特性相关。柯泰测试正在对最终发布版进行测试，实际指标以最终发布为准。
柯泰测试预计2021年1月正式发布相关解决方案，并于2021年2月开始发货。
同时，柯泰测试正在研发用于LiDAR的窄脉冲测试方案，敬请期待。
