在同期举行的第五届激光雷达前瞻技术展示交流会上，柯泰光芯研发总监蒋威发表了关于《大功率VCSEL激光器晶圆级测试方法及相关技术背景》的主题演讲，来自全国各地的展商和观众齐聚一堂，聆听蒋总的分享。

在现场，蒋威首先为听众们展示了VCSEL基础性能测试的基本参数，“虽然这些参数看起来比较简单，但在测试端我们面对的挑战越来越多，为了应对这些挑战，我们不断推出更新、更贴合用户实际需求的解决方案。”

“大功率的VCSEL怎么测？我们从两年前就开始布局，并不断推陈出新，推出越来越极致的测试内容，以满足客户的测试需求。”柯泰光芯的VCSEL晶圆级测试机从最初推出时的200ns级，发展至100ns级，如今，50ns级测试设备也即将发布。

同时，蒋威表示，应对汽车级的应用，柯泰光芯的关注目光也放在反向漏电流，“我们会集成反向漏电流测试，支持反向最高可达负200v的反向电压测试、nA量级的精度，以满足客户的测试需求。”

柯泰光芯的测试设备遇到了越来越多的应用场景：从单颗VCSEL芯片，到1D 多通道VCSEL芯片，再到2D 可寻址VCSEL芯片。应对不同应用场景，柯泰均有相应的解决方案。“我们需要让一个机台上支持所有种类的芯片测试，这是一个很大的挑战。虽然窄脉冲和宽脉冲一样，需要LIV、近场及远场的测试，但大功率多节的VCSEL尤其是多维VCSEL芯片测试，为晶圆级测试带来很大难点。可喜的是，目前柯泰光芯已克服了这些挑战。”蒋威说道。

蒋威重点介绍了贴合此次大会主题的汽车领域激光雷达的测试解决方案。除晶圆级测试解决方案，柯泰光芯亦针对封装体以及模组级推出对应的测试解决方案，许多参数也达到了国内领先。

不仅仅是演讲环节，柯泰光芯在展台所展出“高速光功率测试仪”，也获得了行业专家和观众的高度好评和认可。

这个针对研发级的大功率脉冲光功率测试的小型设备，适用于激光雷达以及其他需要探测脉冲光功率的应用场景，可自动抓取脉冲光波形，自动读取每个点的光功率值，快速、便捷地采集到VCSEL激光器的峰值光功率。其最小探测分辨率可达1W以内，带宽最高可达500MHz。

凭借其出色的测试能力、灵活的应用场景等特性，高速光功率测试仪在展会现场吸引了不少客户驻足垂询。

未来，柯泰光芯将继续秉承研发精神不断创新，为客户提供更优质的解决方案和服务。