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DMP7000 - PD/APD晶圆量产台
柯泰光芯自主研发的背照式APD晶圆性能测试系统DMP7000,该系统由自动探针台模组、光纤耦合模组、APD测试模组、特制探针座模组、驱动及控制软件等组成,可以作为裸芯片的综合性能评测机构,该系统具备快速半自动综合检测能力,测试速度快,完全符合小批量实验室测试应用,检测精度高,适应性强。
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